Statistik proseslərə nəzarəti kim icad etmişdir?

Video: Statistik proseslərə nəzarəti kim icad etmişdir?

2024 Müəllif: Stanley Ellington | [email protected]. Son dəyişdirildi: 2023-12-16 00:13

Walter A. Shewhart

Eynilə, siz soruşa bilərsiniz, SPC istehsalı nədir?

Statistik Proses Nəzarəti ( SPC ) keyfiyyətin ölçülməsi və nəzarət edilməsi üçün sənaye standartı metodologiyasıdır istehsal proses. Məhsul və ya Proses ölçmələri şəklində keyfiyyətli məlumatlar real vaxtda əldə edilir istehsal.

statistik proses nəzarətini necə edirsiniz? Statistik proseslərə nəzarətin həyata keçirilməsi

Ölçmə üsulunu təyin edin. Statistik Prosesə Nəzarət məlumatların təhlilinə əsaslanır, ona görə də ilk addım hansı məlumatların toplanacağına qərar verməkdir.
& 3.
& 5.
& 7.
Nəzarət Planına Diaqram əlavə edin.
20-25 Alt Qrupdan Sonra Nəzarət Limitlərini Hesablayın.
Nəzarətin qiymətləndirilməsi.
& 12.

Sonra Spc istehsalda necə tətbiq olunur?

SPC SİSTEMİ.
MƏSULİYYƏTLƏR.
İLK MÜHENDİSLİK FƏALİYYƏTLƏRİ.
Proses və xarakterik seçim. Tipik olaraq, istehsal prosesi bir neçə kiçik addımdan ibarətdir.
Diaqram seçimi. Diaqram seçimi toplanacaq məlumatlara əsaslanmalıdır.
Nümunə alma tezliyi.
Alt Qrup Ölçüsü.
Nəzarət Limitinin Hesablamaları.

Neçə növ SPC var?

Statistik Proses Nəzarəti (SPC): Üç növ Nəzarət Diaqramlarının | InfinityQS.

Tövsiyə:

Nüvə bombalarını kim icad edib?

Oppenheimer Los Alamos Laboratoriyasının müharibə zamanı rəhbəri idi və İkinci Dünya Müharibəsi zamanı ilk nüvə silahlarını hazırlayan Manhetten Layihəsindəki roluna görə "atom bombasının atası" kimi tanınanlardan biridir

Açar daş tağını kim icad etdi?

Qədim romalılar

Plastik su qablarını kim icad edib?

1973 -cü ildə DuPont mühəndisi Nathaniel Wyeth qazlı mayelərin təzyiqinə tab gətirən ilk plastik şüşə olan Polietilen tereftalat (PET) şüşələrini patentləşdirdi

Statistik proseslərə nəzarət nə deməkdir?

Statistik prosesə nəzarət (SPC) bir prosesi izləmək və idarə etmək üçün statistik metodlardan istifadə edən keyfiyyətə nəzarət üsuludur. SPC 'uyğun məhsul' (məhsulun spesifikasiyası) çıxışının ölçülə biləcəyi istənilən prosesə tətbiq edilə bilər